通过对样品进行单独调整，可以进行完整的分析。活动支架使光源和望远镜的简单交换成为可能。

• 不同波长和数值孔径的光源

• 用于在样品和传感器之间实现合适的放大倍率的扩束望远镜

• 用于具有不同曲率半径的表面的透镜组件

• 样品架和托盘

• 标准样品

软件可根据测量任务相关的需求进行模块优化：

• Zernike拟合和实时波前分析

• 拟合结果和残差的数值和图形显示

• 从ZEMAX和CODE V导入波前设计数据以进行实时比

• 以ASCII和ZEMAX格式导出波前数据和分析结果

• 3D MTF 和 PSF 数据的实时计算和显示

• MTF测量结果表

• 测量结果导出功能

• 计算斯特列尔比

• 测量范围的扩展

• 柱面人工晶状体升级（自动标记点检测、MTF的测量、目视检查）

• 升级为546nm

• 具有各种孔径尺寸的人工晶状体工装

• 模型眼，可选可加热

• 计算斯特列尔比