WaveMaster® Compact - 作为质量保证的一部分的单镜头波前测量仪的理想选择

WaveMaster® Compact系列产品可以简单快速的完成对球面或非球面镜片波前质量的检测，并运用泽尼克多项式实时分析波前数据，在生产和研发上都有着广泛应用。

WaveMaster® Compact适用于基于夏克·哈特曼的波前测量

*可快速、简单的更改装置设置实现不同测量范围间的切换；

*针对量化生产的高速测量；

*高精度四轴校准样品架，用于亚微米位置调整；

*自动聚焦；

*高精度；

*与主透镜或设计文件中波阵面的实时比较；

*点光源、多种通光孔径可选；

*防振式结构，避免振动影响；

*功能完备的软件；

基于夏克·哈特曼传感器的波前测量

WaveSenso软件控制WaveMaster 设备进行检测。它具有简明清晰的操作界面。包含所有测量与分析的功能，软件与夏克·哈特曼传感器进行通讯，能够对所得波前数据进行实时分析。

软件优势

*菜单指导用户；

*简单直观的波前测量与分析；

*一个软件包涵盖所有功能：数据收集、计算、显示、实时分析；

*可从ZEMAX和Code V加载理论值，并与实时测量结果相比较；

软件详细介绍

主要功能：

*实时显示波前采集和分析；

*显示：

*减少背景光线；

*波前、边缘以及相位的2D或3D的实时显示。

*峰谷和RMS的实时显示；

*光强的实时显示；

*倾斜度显示；

*实时显示照相机成像；

*导入波前理论数据与测量数据对比；

*绝对或相对式测量；

*倾斜和散焦的实时修正；

*样品调整工具（倾斜及位置调整）；

*生成证书；

*多种分析模块可用；

MTF/PSF分析模块

*MTF/PSF的实时计算与显示；

*横截面的实时显示；

*便于导出测量结果；

*计算Strehl比率；

Zernike分析模块

*系数的自由选择，包括在分析过程中的输入和删除；

*实时泽尔尼克分析；

*Zernike系数的数字和图形实时显示；

*从ZEMAX和Code V导入波前理论数据与测量数据对比；

*导出波前数据和分析结果到ASCII和ZEMAX；

INSTRUMENT控制

*自动对焦功能；

*自动寻找出瞳平面；

*自动样品定位（可选）；

*使用预先设定的配置文件；

*取决于光管

**取决于光源；

***依用户选择；

WaveMaster® Compact的升级和附件

波前传感器的特点是灵活的设计，可以使用仪器适应特定的应用需求，借助以下附件和升级，WaveMaster系统的功能得到扩展。

波前传感器

当需要更高的动态范围或精度时，可以更换WaveMaster仪器的波前传感器，作为升级，所有可用的WaveMaster设备都可以实施到WaveMaster仪器中，可根据要求提供更多波前传感器。

照明

具有不同波长和数值孔径的光源可供选择，数值孔径之间的切换由于运动学安装而被简化。

望远镜

为了最大限度的利用传感器的动态范围，从而提供横向分辨率，可以使用一套望远镜。

根据样品直径和波前传感器的尺寸，必须选择最佳放大倍率，运动支架可以方便地更换望远镜。