欢迎来到 北京全欧光学检测仪器有限公司!
WaveMaster® Compact - 作为质量保证的一部分的单镜头波前测量仪的不错选择
WaveMaster® Compact系列产品可以简单快速的完成对球面或非球面镜片波前质量的检测,并运用泽尼克多项式实时分析波前数据,在生产和研发上都有着广泛应用。
|
![]() WaveMaster® Compact适用于基于夏克·哈特曼的波前测量 |
*可快速、简单的更改装置设置实现不同测量范围间的切换;
*针对量化生产的高速测量;
*高精度四轴校准样品架,用于亚微米位置调整;
*自动聚焦;
*高精度;
*与主透镜或设计文件中波阵面的实时比较;
*点光源、多种通光孔径可选;
*防振式结构,避免振动影响;
*功能完备的软件;
WaveMaster Compact利用其内部的夏克·哈特曼波前传感器检测以下参数:
*面型(PV,RMS等);
*Zernike系数;
*点扩散函数(PSF);
*调制传递函数;
*斯特列尔比;
*楔角;
基于夏克·哈特曼传感器的波前测量
WaveSenso软件控制WaveMaster 设备进行检测。它具有简明清晰的操作界面。包含测量与分析的功能,软件与夏克·哈特曼传感器进行通讯,能够对所得波前数据进行实时分析。
软件优势
*菜单指导用户;
*简单直观的波前测量与分析;
*一个软件包涵盖功能:数据收集、计算、显示、实时分析;
*可从ZEMAX和Code V加载理论值,并与实时测量结果相比较;
软件详细介绍
主要功能:
*实时显示波前采集和分析;
*显示:
*减少背景光线;
*波前、边缘以及相位的2D或3D的实时显示。
*峰谷和RMS的实时显示;
*光强的实时显示;
*倾斜度显示;
*实时显示照相机成像;
*导入波前理论数据与测量数据对比;
*绝对或相对式测量;
*倾斜和散焦的实时修正;
*样品调整工具(倾斜及位置调整);
*生成证书;
*多种分析模块可用;
MTF/PSF分析模块
*MTF/PSF的实时计算与显示;
*横截面的实时显示;
*便于导出测量结果;
*计算Strehl比率;
Zernike分析模块
*系数的自由选择,包括在分析过程中的输入和删除;
*实时泽尔尼克分析;
*Zernike系数的数字和图形实时显示;
*从ZEMAX和Code V导入波前理论数据与测量数据对比;
*导出波前数据和分析结果到ASCII和ZEMAX;
INSTRUMENT控制
*自动对焦功能;
*自动寻找出瞳平面;
*自动样品定位(可选);
*使用预先设定的配置文件;
测量配置 | 检测光学波前面透射式无限共轭设置 |
样品直径* | 0.5 mm - 14 mm |
EFL** |
-30— +100 mm |
波长*** | 365 nm - 1064 nm |
样品架 | 单座 手动定位 |
精度 | <λ /20(RMS) |
重复率 | <λ /200(RMS) |
动态范围 | 2000λ |
检测频率(MAX) | 12 Hz |
横向分辨率 | 138 x 138 |
*取决于光管
**取决于光源;
***依用户选择;
WaveMaster® Compact的升级和附件
波前传感器的特点是灵活的设计,可以使用仪器适应特定的应用需求,借助以下附件和升级,WaveMaster系统的功能得到扩展。
波前传感器
当需要更高的动态范围或精度时,可以更换WaveMaster仪器的波前传感器,作为升级,所有可用的WaveMaster设备都可以实施到WaveMaster仪器中,可根据要求提供更多波前传感器。
照明
具有不同波长和数值孔径的光源可供选择,数值孔径之间的切换由于运动学安装而被简化。
望远镜
为了利用传感器的动态范围,从而提供横向分辨率,可以使用一套望远镜。
根据样品直径和波前传感器的尺寸,必须选择放大倍率,运动支架可以方便地更换望远镜。