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WaveMaster® Compact - 作为质量保证的一部分的单镜头波前测量仪的理想选择

WaveMaster® Compact系列产品可以简单快速的完成对球面或非球面镜片波前质量的检测,并运用泽尼克多项式实时分析波前数据,在生产和研发上都有着广泛应用。


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WaveMaster® Compact适用于基于夏克·哈特曼的波前测量


主要功能

*可快速、简单的更改装置设置实现不同测量范围间的切换;

*针对量化生产的高速测量;

*高精度四轴校准样品架,用于亚微米位置调整;

*自动聚焦;

*高精度;

*与主透镜或设计文件中波阵面的实时比较;

*点光源、多种通光孔径可选;

*防振式结构,避免振动影响;

*功能完备的软件;


WaveMaster Compact利用其内部的夏克·哈特曼波前传感器检测以下参数:

*面型(PV,RMS等);

*Zernike系数;

*点扩散函数(PSF);

*调制传递函数;

*斯特列尔比;

*楔角;