WaveMaster® Plan - 平面元件的波前测量

WaveMaster® Plan 用于光学平板或光楔等平面光学元件的质量控制，系统利用内置的夏克·哈特曼 波前传感器透射式检测光学波前。

WaveMaster Plan使用夏克·哈特曼传感器测量平面元素

*综合分析平面光学元件；

*快速检测样品的产量；

*样品架可保证亚微米范围的校准；

*更换样品后，只需要进行很小的调整；

*夏克·哈特曼传感器具有高测量精度；

*与主透镜或设计文件中波阵面的实时比较；

*准直光源；

*防震设计；

*功能完备的软件；

应用

WaveMaster 透射式检测平面元的光学波前面型的质量。

基于夏克·哈特曼传感器的波前测量

WaveSenso软件控制WaveMaster 设备进行检测。它具有简明清晰的操作界面。包含所有测量与分析的功能，软件与夏克·哈特曼传感器进行通讯，能够对所得波前数据进行实时分析。

软件优势

*菜单指导用户；

*简单直观的波前测量与分析；

*一个软件包涵盖功能：数据收集、计算、显示、实时分析；

*可从ZEMAX和Code V加载理论值，并与实时测量结果相比较；

软件详细介绍

主要功能：

*实时显示波前采集和分析；

*显示：

*减少背景光线；

*波前、边缘以及相位的2D或3D的实时显示。

*峰谷和RMS的实时显示；

*光强的实时显示；

*倾斜度显示；

*实时显示照相机成像；

*导入波前理论数据与测量数据对比；

*绝对或相对式测量；

*倾斜和散焦的实时修正；

*样品调整工具（倾斜及位置调整）；

*生成证书；

*多种分析模块可用；

MTF/PSF分析模块

*MTF/PSF的实时计算与显示；

*横截面的实时显示；

*便于导出测量结果；

*计算Strehl比率；

Zernike分析模块

*实时Zernike拟合和波前数据分析；

*拟合结果的数字和图形显示；

*从ZEMAX和Code V导入理论波前数据进行实时比较；

*将波前数据和分析结果导出为ASCII和ZEMAX格式；

*Zernike系数趋势的显示；

*取决于光管

**依用户选择

WaveMaster® Compact的升级和附件

波前传感器的特点是灵活的设计，可以使用仪器适应特定的应用需求，借助以下附件和升级，WaveMaster系统的功能得到扩展。

波前传感器

当需要更高的动态范围或精度时，可以更换WaveMaster仪器的波前传感器，所有WaveMaster设备均可被升级到WaveMaster中。

照明

可升级为不同孔径、不同波长的光源。更换快捷简便。

光管

很大限度地利用传感器的动态范围，获得横向分辨率。

依据样品直径和波前传感器尺寸选择放大倍率。更换快捷简便。