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WaveMaster® PRO 2 / PRO2 Wafers 是全自动波前测量系统,配有夏克·哈特曼传感器,用于透镜和光学镜片的串联测试

    大量生产小塑料或玻璃镜片,光学窗的质量和效率要求不断提高。在大规模生产中使用波前测量技术可以产生很大的优化能力。

    WaveMaster® PRO 2和 PRO 2 Wafers为光学和光学晶圆的系列测试树立了新的标准。典型的测量时间为2秒。每个光学元件可以让托盘和晶圆快速更换。满足在大批量生产中使用的先决条件。关于测量技术。WaveMaster® PRO 2和PRO 2 Wafer通过夏克·哈特曼传感器确定衍生各种参数的波前。然后对每个镜头执行与设计数据的比较。一个非常好的数据池,用于生产中的其他优化。

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主要特点

*测量时间,少于透镜2秒;

*全自动检测大量样本;

*用户可选择“通过/未通过”标准;

*绝对或相对式测量;

*完整的波前分析(PV、RMS、Zernike、PSF、MTF、Strehl);

*两种可行设置:检测球面、非球面元件(透镜或晶圆);

                       检测平面元件(单表面或晶圆);

*输出所有检测结果;

*可选择:集成能够测量晶圆取向、表面翘度和倾斜的系统;


应用

质量控制:

*球面、非球面元件;

*光学窗口;

*滤光片;

*光学晶圆;


夏克·哈特曼波前传感器相关功能:

*Zernike系数数据;

*导入波前理论数据与测量数据对比;

*通过波前分析确定成像质量(MTF)、材料缺陷、生产错误;

*楔角(可选择);

*EFL(可选择);