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WaveMaster® Compact Universal - 用夏克·哈特曼传感器进行波前和表面测量

WaveMaster® Compact Universal使用内置夏克·哈特曼传感器投射、反射式检测透镜的光学波前。仅需要简单的调整,即可使用一套系统完成波前和平面、球面、非球面元件的表面面型检测。 \

主要特点

*一套系统完成波前和表面面型的检测;

*针对量化生产的高速测量;

*可快速、简单的更改装置设置实现在不同测量范围间的切换;

*高精度四轴校准样品架,用于亚微米位置调整;

*当连续测量样品时,只需对样品进行微小的调节即可;

*自动聚焦;

*高精度;

*自动定位波前传感器和光管;

*点光源,多种通光孔径可选(最大0.95);

*防振式结构,避免振动影响;

*功能完备的软件;


应用

WaveMaster® Compact利用内部的夏克·哈特曼波前传感器检测以下参数:

*面型(PV,RMS等);

*Zernike系数;

*点扩散函数(PSF);

*调制传递函数;

*斯特列尔比;

*楔角;

*平面、球面、非球面元件的表面面型;

*半径


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