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OptiSurf®  - 高精度低相干干涉仪,用于UV VIS和IR光学元件的中心厚度和空气间隔

    OptiSurf® 是非接触式测量单镜头、平面关系和光学系统中心厚度与空气间隔的理想工具。该仪器基于低相干干涉仪测量原理,经一次扫描即可测量光学系统中所有的表面距离,精度高达0.15µm。特别是,与常规系统相比。OptiSurf®大大简化了样品对于测量轴的对准过程;颇具创新性的对准工具,可调的样品支架以及简便的软件控制使无经验的操作者也能够精确的对准并进行测量。这种省时的创新使OptiSurf® 可用于生产中。

     OptiSurf®是市场中可测量远红外镜头材料的设备。作为 OptiCentric® IR设备的更新, OptiCentric® IR 是红外透镜高精度组装工艺的完美补充。

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OptiSurf® UltraPrecision

 


 

 

主要特征

*具有0.15µm的中心厚度与空气间隔测量精度;

*可应用于紫外、可见与红外光学;

*轻松输入样品数据;

*可通过OptiCentric®Zmeax或镜头设计编码器中导入镜头设计对测量结果的统计分析;

*自动识别镜头表面,计算表面之间的距离;

*具有快速简便的样品对准软件工具;

*采用非接触式测量;

 

应用

    OptiSurf®低相干干涉仪能够测量单透镜(最大光学厚度为800mm)、光学系统与透镜材料的中心厚度与空气间隔。

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用于中心厚度和气隙测量的OptiSurf®低相干干涉仪