欢迎来到 北京全欧光学检测仪器有限公司!

产品概述

软件

技术数据

升级配件

ImageMaster® Pro 5 Wafer - 晶圆级光学器件的MTF测量

    ImageMaster® Pro 5 Wafer是专门设计用于生产中新一代晶圆级物镜质量检测的仪器,例如需大量生产的手机、数码相机镜头或自动传感器。8英尺(200mm)以下任意大小的光学镜片及数千个微型镜头的测量可在一次完整的检测中快速完成。ImageMaster® Pro 5 Wafer可对放置在托盘内的园晶或单镜头进行全自动测量。    \
      ImageMaster®PRO 5晶圆测量室

主要特点

*固定像平面位置,比较快速的MTF测量(每个透镜测量时间少于1秒);

*较高的法兰焦距测量精度;

*倾斜校正功能(翘曲度补偿) ;

*测量晶园表面翘曲度;

*测量精度可追溯到国际标准;

*可测晶园最大直径为8英尺(200mm)(依据需求可测12英尺300mm);

*软件控制晶园的精确对准;

*为下一步生产步骤进行数据处理;

*操作状态指示灯;

*动态底座和晶圆旋转移动校准工具使得样品装载便捷;

*具有多种“通过/未通过”标准,允许对每种镜头使用最适合的标准;

*洁净室兼容性ISO 5;

应用

ImageMaster® Pro 5 Wafer测量晶圆级光学器件的MTF;

*轴上与离轴MTF;

*有效焦距;

*法兰焦距;

*场曲;

*焦深;

*色差;

*像散;

*相对畸变;