中心厚度和空气间隔的高精度测量
OptiSurf® 镜面定位仪
OptiSurf®非常适合单透镜和平面光学系统的中心厚度的非接触式测量以及光学系统中的空气间隔测量。低相干干涉仪只需一次扫描操作即可测量光学系统中的所有表面距离，精度高达0.15µm。其创新的校准、可调节的样品托盘和直观的软件确保以简单的方式精确定位和测量镜头和光学系统。使得OptiSurf®特别适合在生产中使用。
产品特点
01 ▏高精度
测量结果的精度高达0.15µm，满足高要求。镜片表面和表面距离被自动识别并分别计算。
02 ▏对材料友好
使用短相干性的非接触式测试方法对材料特别温和且灵活。因此，即使具有抗反射涂层，也可以测量紫外、可见光和红外样品。
03 ▏操作简单
创新的调整、可变样品架和软件简化了样品与测量轴的校准。这意味着只需要很少的培训。
产品概述
| OptiSurf® 中心厚度测量的标准设备 OptiSurf®是测量中心厚度和空气间隔的标准设备。
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| OptiSurf® UP 满足测量高要求 OptiSurf® UP以其超精确的中心厚度和空气间隔测量满足高要求。
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| OptiSurf® IR 所有红外镜片的测量 独特的测量系统OptiSurf® IR可以测量红外透镜的中心厚度和空气间隔。
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| OptiSurf® OEM 单独安装 OptiSurf® OEM可以集成到外部系统中，用于客户特定的中心厚度和空气间隔测量与其他测量参数的链接。
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