WaveSensor & WaveMaster® 波前测试系统
夏克-哈特曼波前传感器
为了能够验证复杂的光学设计在生产中是否成功，必须使用一个有效的检测技术。波前测量特别适合此目的，因为它可以在空间分辨的基础上确定图像质量，包括所有视场角上和整个样品孔径。与传统的MTF测试相比，波前测试是用点扩散函数进行评价，可覆盖整个样品口径。
产品特点
01 ▏灵敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前测试系统的动态范围高达2000λ，可在镜头设计中实现高度灵敏的测量。
02 ▏重复精度高
除了高达λ/20 (RMS)的测量精度外，由于紧凑、坚固和抗振的设计，还实现了λ/200 (RMS)的高重复性。
03 ▏实时分析
实时将测量波前数据的结果与样品镜片或设计值的结果进行比较和评估。
产品概述
WaveMaster® Compact 2 研发型透过波前测量 WaveMaster® Compact 2在质量控制中提供单透镜或整个光学系统的波前测量。
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WaveMaster® Compact Reflex 研发型反射波前测量 WaveMaster® Compact Reflex可以测量单透镜的表面形貌和曲率半径。
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WaveMaster® Compact 2 Universal 透射和反射波前测试 WaveMaster® Compact 2 Universal集成了透过波前测量和反射表面形貌测量。
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