产品详情

µPhase® 面型测试系统

用于测量表面和波前变形的干涉仪

  µPhase®干涉仪可以对由玻璃、塑料、金属、陶瓷或类似材料制成的反射和透射组件的表面和波前变形进行快速、高精度测量。客观可靠的结果满足高质量管理要求。非接触式测量过程有助于防止损坏样品。  


产品特点

01 ▏高精度

对平面、球面、圆柱、复曲面和非球面部件的整个表面和波前变形进行高精度测量。


02 ▏多样化用途

µPhase®可普遍用于反射率从0.2%到100%的所有表面,由玻璃、塑料、金属和陶瓷等材料制成。


03 ▏可靠

客观的数字化测量可避免操作员的影响。同样,坚固的防尘外壳确保了高可靠性。



产品概述

  µPhase®干涉仪是非常紧凑、小巧、轻便的数字化设备,可以在很多工作环境中使用。在µShape软件的支持下,可以进行广泛的测量分析。

  µPhase®传感器是TRIOPTICS干涉测量的基础。该传感器是模块化的,可以配置各种测量直径,并代表特定的测量任务。此外,可以以低成本提供定制的解决方案。


µPhase-Plano-Down-transparent-Interferometry-Fizeau-Twyman-Green-DSC6749-schwarz-Triopticsblau-neu.png

µPhase® PLANO DOWN 结构紧凑

  µPhase® PLANO DOWN具有紧凑的设计,适用于在研发和生产中测量平面部件。  

  • 测量直径范围最大为150mm

  • 将样品放在花岗岩板上并从顶部开始测量

  • 由于该装置具有坚固的花岗岩底座,通常不需要隔振

  • 设计紧凑,占地面积小

  • 高度可调节的立柱易于操作

  • 由于其直观且易于操作,因此也可由未经培训的人员使用



µPhase-Plano-Up-transparent-Interferometry-Fizeau-Twyman-Green-DSC6706-Triopticsblau-neu.png

µPhase® PLANO UP 生产中的平面透镜

  对于生产光学平板的经济高效的质量控制,µPhase® PLANO UP是很好的选择。 

  • 测量直径范围最大为100mm

  • 紧凑型设计,适合小空间,可放置在生产机器旁边

  • 样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上,并从下方测量

  • 抗震

  • 连续测量不需要中间重新校准

  • 由于其直观且易于操作,因此也可由未经培训的人员使用



µPhase-Sphero-UP-transparent-Interferometry-Fizeau-Twyman-Green-DSC6726-Triopticsblau-neu.png

µPhase® SPHERO UP 生产中的球体

  使用µPhase® SPHERO UP在生产中可以快速且经济地控制球面。 

  • 测量直径范围最大为50mm

  • 紧凑型设计,适合小空间,可放置在生产机器旁边

  • 样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上,并从下方开始测量

  • 抗震

  • 连续测量中间不需要重新校准

  • 由于其直观且易于操作,因此也可由未经培训的人员使用




电话咨询


北方大区:15120019001

华东大区:13771985027

华南大区:13686805260

西南大区:15109205086

7*24小时客服服务热线

关注官方微信
产品详情

µPhase® 面型测试系统

用于测量表面和波前变形的干涉仪

  µPhase®干涉仪可以对由玻璃、塑料、金属、陶瓷或类似材料制成的反射和透射组件的表面和波前变形进行快速、高精度测量。客观可靠的结果满足高质量管理要求。非接触式测量过程有助于防止损坏样品。  


产品特点

01 ▏高精度

对平面、球面、圆柱、复曲面和非球面部件的整个表面和波前变形进行高精度测量。


02 ▏多样化用途

µPhase®可普遍用于反射率从0.2%到100%的所有表面,由玻璃、塑料、金属和陶瓷等材料制成。


03 ▏可靠

客观的数字化测量可避免操作员的影响。同样,坚固的防尘外壳确保了高可靠性。



产品概述

  µPhase®干涉仪是非常紧凑、小巧、轻便的数字化设备,可以在很多工作环境中使用。在µShape软件的支持下,可以进行广泛的测量分析。

  µPhase®传感器是TRIOPTICS干涉测量的基础。该传感器是模块化的,可以配置各种测量直径,并代表特定的测量任务。此外,可以以低成本提供定制的解决方案。


µPhase-Plano-Down-transparent-Interferometry-Fizeau-Twyman-Green-DSC6749-schwarz-Triopticsblau-neu.png

µPhase® PLANO DOWN 结构紧凑

  µPhase® PLANO DOWN具有紧凑的设计,适用于在研发和生产中测量平面部件。  

  • 测量直径范围最大为150mm

  • 将样品放在花岗岩板上并从顶部开始测量

  • 由于该装置具有坚固的花岗岩底座,通常不需要隔振

  • 设计紧凑,占地面积小

  • 高度可调节的立柱易于操作

  • 由于其直观且易于操作,因此也可由未经培训的人员使用



µPhase-Plano-Up-transparent-Interferometry-Fizeau-Twyman-Green-DSC6706-Triopticsblau-neu.png

µPhase® PLANO UP 生产中的平面透镜

  对于生产光学平板的经济高效的质量控制,µPhase® PLANO UP是很好的选择。 

  • 测量直径范围最大为100mm

  • 紧凑型设计,适合小空间,可放置在生产机器旁边

  • 样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上,并从下方测量

  • 抗震

  • 连续测量不需要中间重新校准

  • 由于其直观且易于操作,因此也可由未经培训的人员使用



µPhase-Sphero-UP-transparent-Interferometry-Fizeau-Twyman-Green-DSC6726-Triopticsblau-neu.png

µPhase® SPHERO UP 生产中的球体

  使用µPhase® SPHERO UP在生产中可以快速且经济地控制球面。 

  • 测量直径范围最大为50mm

  • 紧凑型设计,适合小空间,可放置在生产机器旁边

  • 样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上,并从下方开始测量

  • 抗震

  • 连续测量中间不需要重新校准

  • 由于其直观且易于操作,因此也可由未经培训的人员使用