OptiSurf®
高精度测量中心厚度和空气间隙
OptiSurf® 非常适合以非接触方式测量单镜片和平面光学元件的中心厚度以及测量光学系统的空气间隙。低相干干涉仪只需一次扫描操作即可测量光学系统中的所有表面距离，精度高达 0.15 µm。其创新的调整功能、可调节的样品托盘和直观的软件可确保以最简单的方式精确定位和测量镜片和光学系统。这使得 OptiSurf® 特别适合用于生产。
高精度
精度高达 0.15 µm，测量结果满足极高要求。分别对镜头表面和表面间的距离进行自动识别和计算。
不伤材料的温和方式
采用短相干技术的非接触式测试方法对材料特别温和，而且十分灵活。因此，即使带有防反射涂层，也可测量紫外、可见和红外波段样品。
易于使用
通过创新的调整功能、可变样本支架和智能软件简化了样品与测量轴的调整过程。这意味着只需很少的培训。
产品
OptiSurf®
中心厚度测量标准
OptiSurf® 是测量中心厚度和空气间隙的标准。
- 测量精度高达 1 µm
- 测量头具有自动对焦功能
- 集成了可视激光束，用于样品的初步调整
OptiSurf® UP
满足极高要求
OptiSurf® UP 可非常精确地测量中心厚度和空气间隙，满足极高要求。
- 测量精度 0.15 µm
- 测量头具有自动对焦功能
- 带温度和空气压力传感器
- 集成了可视激光束，用于样品的初步调整
OptiSurf® IR OEM
测量所有红外材料
独特的 OptiSurf® IR OEM 测量头可测量红外镜头的中心厚度和空气间隙。
- 带延迟线的单个传感器，便于定制集成
- 测量精度 5 µm
- 测量头具有自动对焦功能
OptiSurf® OEM
按需调整
OptiSurf® OEM 可以集成到外部系统中，根据客户特定的要求将中心厚度和空气间隙测量数据与其他测量参数连接起来。
- 带延迟线的单个传感器可集成到非 TRIOPTICS 测量系统中
- 测量头具有自动对焦功能
软件
OptiSurf®
快速、全面、用户友好
OptiSurf® 软件可快速全面地测量和分析光学系统中的中心厚度和空气间隙。从镜头系统方案中的信号曲线和颜色标记都可以快速得出关于测量的可信度和完整性的结论。通过多次测量和统计评估，可实现高度可靠的结果评估。
- 支持简单直观的操作、调整和测量过程
- 自动识别表面，实现快速精确的测量
- 通过“通过/失败”分析来自动评估和识别偏差
- 通过对测量结果进行统计分析实现对特定产品的质量控制
- 直接通过 Zemax、OptiCentric® 或设计编辑器轻松输入样本数据
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升级
TRIOPTICS 提供以下配件，帮助完成快速且经过验证的测试