OptiSurf® PRO AR
测试 AR 波导堆栈和平面光学元件的几何特性
OptiSurf® PRO AR 是一种测量设备，用于确定单个波导和其他平面光学元件以及波导堆栈的几何特性。堆栈波导由两个或三个元件组成，各个元件彼此间的相对倾斜可能会导致不必要的色差。® PRO AR 可准确测量这一倾斜度。这个过程中关注的焦点是波导的单个元件彼此间的相对倾斜度或者相对于某个机械基准值的倾斜度。另一个重要应用是测量波导面积上的总厚度变化 (TTV) ，因为厚度变化过大会大幅降低生成图像的对比度 (MTF)
无论是在波导堆栈或光学元件的制造、研发还是质量控制中，该系统都能以亚微米的精度测量单个中心厚度和堆栈中组件之间的空气间隙。它还可以直接在软件中分析倾斜度、表面形状和弯曲度。
无论是在波导堆栈或光学元件的制造、研发还是质量控制中，该系统都能以亚微米的精度测量单个中心厚度和堆栈中组件之间的空气间隙。它还可以直接在软件中分析倾斜度、表面形状和弯曲度。
独特性
OptiSurf® PRO AR 能够准确可靠地测试几何特性。它是市场上唯一能够准确测量堆栈波导中各元件彼此间相对倾斜度的测量设备。
精度
OptiSurf® PRO AR 旨在为您提供准确的测量数据，例如单个波导或平面光学元件的总厚度变化 (TTV) 、平面度和弯曲度，以及堆栈波导的对齐度（例如倾斜度和空气间隙距离）。该方法采用无损测量过程，可达到极高精度。
经验
TRIOPTICS 在使用Optisurf®系列产品进行非接触测量单透镜和光学平面的中心厚度以及光学系统中的空气间隔方面有多年丰富经验。
软件
OptiAngle® 6 和 OptiSurf®
- 为操作、装调和测量过程提供专业软件支持。
- 可自定义软件界面
- 直接在软件中分析倾斜度、表面形状和弯曲度
